第610章 国产光刻机的研发进程,至少缩短了 今月曾经照古河
学设计的构型、入射角,再到基底材料、反射涂层、热管理子系统和电磁场碎屑减缓系统,甚至连镀膜工艺的参数表、误差校准的算法模型都附带在内。
此前光学部争论了半个月的「多镜拼接角度偏差」问题,文档里直接给出了「雷射干涉实时校准」的解决方案,就连校准用的雷射波长、采样频率都标注得一清二楚。
林南猛地站起身,声音都有些发颤:「这简直是把答案写了出来!」
技术文档里没署名,这套技术是老板买来的、抢来的,还是说除了星源科技光学部,森联资本其实另有研发实验室?
林南坐在工位上,忍不住胡思乱想着。
上次dp-euv光源技术的事,他就问过梁劲松和陈延森。
梁劲松一头雾水,陈延森则让他别瞎打听,他也只能把满肚子好奇压在心底。
可这一次,他又按捺不住了。
实在是「多壳层掠入射椭圆收集镜系统」的技术太强了,完全是一套完整且成熟的技术方案,由不得他不多想。
林南沉吟半晌,最后苦笑了一声,捏着手机的右手重新放下。
他知道有些问题,别人不想说,就代表不能说,或者说根本没有答案。
随后,他连忙召集核心研发人员开会。
会议室内,当大家看到文档中「多壳层椭圆结构」的三维模型时,原本沉闷的气氛瞬间沸腾。
光学系统设计组的主任工程师指着屏幕说道:「内层镜负责捕获中心60度范围内的euv光,中层镜覆盖60到120度,外层镜补全120到180度,这样收集效率至少能提升到80,压根就没法比,我们之前的那套方案跟垃圾有什幺区别?」
更让众人惊喜的是热管理子系统!
文档中提出在镜体内部嵌入微通道水冷结构,搭配耐高温的钼铼合金基底,既能承受等离子体的高温冲击,又能避免温度过高导致多层膜脱落。
「我们最担心的『高温损伤』问题,这套方案竟然连水冷通道的直径、水流速度都算好了!」
材料组的工程师翻到工艺参数页,激动地说道。
「对了,林工!这个梯度涂层的方案,从钼硅多层膜到二氧化硅保护层,每层的厚度误差控制在01纳米以内,还得用脉冲雷射沉积法分80次沉积,这精度咱们的设备能达到吗?」
有人面露难色地担忧道。
林南皱起眉头,看向设备组的主任工程师问道:「蔡司镀膜机在恒温恒湿环境下,能不能把精度稳定控制在005到01纳米之间?」
设备组的主任工程师想了想,非常严谨地回答道:「连续沉积10层钼硅膜,厚度误差最小004纳米,最大009纳米,刚好能满足方案要求。
但问题是,每次换靶材、调整雷射功率时,误差会出现012到015纳米的波动,80次沉积下来,累积误差可能会超标。」
林南思索片刻,给了一条解决思路:「那就加一道实时校准的流程,算法组先开发一套膜厚监测程序,跟镀膜机的传感器联动,每沉积10层,就自动暂停,用电子显微镜扫描膜厚。
根据实测数据调整下一轮的雷射功率和沉积时间,把单次误差控制在0
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